Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/20.500.12759/3516
Título : Estimación de la influencia de la longitud del enlace sobre la interferencia intersimbólica en un sistema óptico dwdm, mediante una herramienta de simulación
Autor : Pinedo Luján, Eric Gerardo
Ruiz Mejía, Luis Angel
Asesor: Cerna Sánchez, Eduardo
Palabras clave : Longitud
Enlace sobre la interferencia
Fecha de publicación : 2017
Institución : Universidad Privada Antenor Orrego
No. de serie: T_ING.ELECT_795
Resumen : El presente trabajo de investigación documenta un estudio de la influencia de la longitud del enlace de fibra óptica DWDM sobre los parámetros de interferencia intersimbólica denominados OSNR, Jitter, Factor Q, y BER mediante una herramienta de simulación. Los resultados obtenidos muestran una degradación de OSNR en los límites de umbral a la distancia 80 km, niveles de Jitter que no llegan al nivel de umbral de 20% de periodo de bit hasta los 100 km, valores de factor Q que llegan al umbral aproximadamente a los 90 km y niveles de error de bit (BER) que llegan al umbral de 10 -12 a la distancia de 90 km. Los resultados de los parámetros son presentados a través de diagramas resultantes de simulación tales como diagramas o patrón de ojo, y tablas estadísticas con curvas de comparación. Se presenta al final de todo el documento las conclusiones y recomendaciones.
The present investigation documents a study of the influence of the length of the DWDM optical fiber link over the interconnected interference parameters OSNR, Jitter, Factor Q, and BER using a simulation tool. The results show a degradation of OSNR in the threshold limits at distance of 80 km, Jitter levels that do not reach the threshold level of 20% of the bit period until 100 km, values of factor Q reaching the threshold approximately at 90 km and bit error levels (BER) reaching the threshold of 10 -12 at the distance of 90 km. The results of the parameters are presented through diagrams resulting from simulation stories such as eye pattern diagrams and statistical tables with comparison curves. It is presented at the end of the whole document, the conclusions and recommendations.
URI : https://hdl.handle.net/20.500.12759/3516
Otros identificadores : T_ING.ELECT_795
Aparece en las colecciones: Ingeniería Electrónica

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