Estimación de la influencia del número de amplificadores dopados de erbio, sobre la separación señal ruido y la tasa de error de bit de un enlace óptico wdm, mediante una herramienta de simulación
Ver/
Descargar
(application/pdf: 2.493Mb)
(application/pdf: 2.493Mb)
Fecha
2018Autor(es)
Chávez Lezma, Fernando Edgardo
Rodríguez Guevara, Jonatan Antonio
Metadatos
Mostrar el registro completo del ítemResumen
El presente trabajo de investigación documenta un estudio de la influencia del
número de amplificadores dopados de erbio sobre la separación señal ruido y la tasa
de error de bit en un enlace óptico WDM, mediante una herramienta de simulación.
Se emplearon para la simulación parámetros típicos de amplificadores EDFAs y fibra
óptica. Los resultados obtenidos muestran una degradación crítica de OSNR cuando
se emplea una separación de 90 km de distancia entre amplificadores
independientemente del número de amplificadores usados. Asimismo se obtuvo una
degradación de BER en los límites de umbral a 40 Km de distancia que se acentúa
ligeramente entre el tercer y cuarto amplificador. Los resultados y conclusiones de
los parámetros son presentados a través de los diagramas resultantes de simulación
tales como patrón de ojo y tablas estadísticas con curvas de comparación al final del
documento. The present investigation documents a study of the influence of the number of erbium
doped fiber Amplifiers on the separation signal to noise and the bit error rate in an
optical link WDM, through a simulation tool. In this simulation were used typical
parameters of EDFAs and fiber optic Amplifiers. The obtained results show a critical
degradation of OSNR when there is a separation of 90 km between amplifiers,
independent of the number of amplifiers used. Similarly a degradation of BER was
obtained in the threshold limits to 40 km of distance that is slightly accentuated
between the third and fourth amplifier. The results and conclusions of the parameters
are presented through the resulting diagrams simulation such as eye pattern and
statistical tables with comparison curves at the end of the document.
Palabras clave
Colecciones
- Ingeniería Electrónica [146]